图为胡海岩院士（右）与郭位院士交流 摄影/ 唐葆君


　　本报讯4月2日香港城市大学（CityUniversityofHongKong）校长郭位院士应邀来我校进行访问和学术交流，并受到我校校长胡海岩院士的亲切接见，双方就治学理念、合作办学的可能性等问题进行了深入的交流。胡海岩指出，希望两校能在学术交流、国际化人才培养等方面加强合作。
　　当日，郭位院士在研究生楼报告厅作了题为ChallengesRelatedtoReliabilityinModernElectronics的学术报告。报告会由管理与经济学院院长魏一鸣教授主持，来自管理与经济学院、理学院、机电学院等学院的40多位老师和研究生参加了报告会。郭位院士首先以中国高速铁路为例提出现代电子产品可靠性研究的重要性，并就现代电子产品面临的失效机理的确定、良品率的提高、可靠性数据的稀缺性和保密性、与现代技术的结合等四个方面的挑战进行了深入浅出的讲解。
　　郭位院士是国际工业工程界及电子工程界可靠性领域著名学者,具有极强的国际影响力，尤其是在系统可靠性最优化设计与纳米及微电子可靠性研究上作出了重要贡献。（管理与经济学院赵先）